Košík
zboží
(prázdné)
Kontakt
Účet
MEGA VÝHODNÉ
- Nakladatel: Fraunhofer Verlag
- Kód:
- Rok vydání: 2023
- Jazyk: Angličtina
- Vazba: Taschenbuch
- Počet stran: 172
Recenze Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectroscopy in High Purity C-Si.
Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectroscopy in High Purity C-Si.
1 312 Kč
Zobrazit knihu
Vyzvednutí zásilky kdekoliv v ČR
Sledujte nás:
Recenze