Košík
zboží
(prázdné)
Kontakt
Účet
MEGA VÝHODNÉ
- Nakladatel: Artech House Publishers
- Kód:
- Rok vydání: 2010
- Jazyk: Angličtina
- Vazba: Mikrofilm
- Počet stran: 213
- Šířka balení: 23.5 cm
- Výška balení: 16.4 cm
- Hloubka balení: 1.8 cm
- Váha balení: 434 g
Recenze Wafer-Level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits
Naposledy prohlédnuté
Vyzvednutí zásilky kdekoliv v ČR
Sledujte nás:
Recenze